Dutch Exam Profile (DEP)

Uit ROSA Wiki
Ga naar: navigatie, zoeken


link-Standaarden Dutch Exam Profile (DEP) (Standaard)
Het Dutch Exam Profile (DEP) is in opdracht van het ministerie van OCW door het College voor Toetsen en Examineren (CvTE) gebruikt bij de ontwikkeling van het centrale computerexamen- en toetssysteem Facet. Facet is bedoeld voor de afname van digitale centrale examens en toetsen die onder verantwoordelijkheid van het CvTE vallen.
Beheerder: Edustandaard
https://www.edustandaard.nl/standaarden/afspraken/afspraak/dep/
DEP is een toepassingsprofiel met extensies van de internationale standaard voor de uitwisseling van digitaal toetsmateriaal IMS QTI. Uitwisseling toetsmateriaal (NLQTI) daarentegen is een variant van QTI die op dit moment niet doorontwikkeld wordt.

Werkingsgebied

  • Sector PO
  • Sector VO
  • Sector BVE

Toepassingsgebied

produceren, distribueren en afspelen van toetsmateriaal voor centrale examens en toetsen

Bouwstenen

De standaard is van toepassing op de volgende bouwstenen:


Voorzieningen

Voorzieningen die invulling geven aan bovenstaande bouwstenen, passen mogelijk deze standaard toe: Facet

Gegevenssoorten en semantiek

De standaard omvat de volgende gegevenssoorten:

GegevenssoortGerelateerd KOI-begrip
AfnameresponsToets (KOI)
Onderwijsactiviteit
ToetsToets (KOI)

Bronnen en aanvullende informatie

Deze pagina is vastgesteld door Architectuurraad, op 7 juli 2017.

Ga naar het overzicht van standaarden.